能量色散X荧光光谱仪 型号 EDC-8600C日期:2022-7-30 14:56:04 人气:795
背景 有害物质限用指令(英语:Restriction of Hazardous SubstancesDirective 2002/95/EC缩写ROHS),是2006年7月1日施行的关于所有在欧盟市场上出售的电子电气设备必须禁止“铅汞、镉、六价铬、PBB(多溴联苯醚)”这6种物质的指令。 EDX-8600C是专门针对ROHS/无卤检测、EN71等环保指令设计的一款光谱仪。 EDX-8600C 是一款快速,准确且经济高效的XRF荧光光谱分析仪,已用于分析各种金属塑料及电子材料中的铅(pb),镉(Cd),砷(As),汞(Hg),铬(Cr)和其他有毒有害元素。它提供的元素检测下限(通常2ppm)完全满足ROHS法规对于材料中元素限制的含量标准。 产品特点 无损检测,快速分析,结果可靠 操作简单明了。将测试样品直接放仪器分析测试窗口上,或者将其放置厂家提供的专用样品杯中(如果很小),通过内置高清摄像头调整样品测量位置后,关闭样品腔上盖。操作员按“开始”一键测试即可在三分钟内获取测量结果。内置的高清摄像头还可以使样品的图像和测试结果已报告格式直接存储或发送到打印机打印。 我们的优势 1、一键式自动测试,使用更简单,更方便,即使非技术人员也能快速上手; 2、采用美国AmpTek最新型Si-pin/SDD探测器,电制冷技术,体积小、数据分析准确且维护成本低; 3、采用自主研发的探测器信号增强处理系统,提高信噪比达到试验室级别最低1ppm检出限;(下图展示了塑料中98ppm和808ppm澳元 素Br的光谱对比图。红色为808ppmBr,蓝色为98ppm澳。光谱图是XRF光谱仪可以速度的数据分析基础); 4、八种光路准直系统,根据不同样品大小自动切换。最小0.2mm准直器可以可以用于样品微点测试,检测光斑更小,射线能量更集中内置高清CCD摄像头,能清晰地显示仪器所所检测的样品部位; 5、采用了7位滤光片自动切换系统,不同的滤光片可有效提高不同基体中元素的检测下辖; 6、多重防辐射泄漏设计,辐射防护级别属于同类产品最高级; 7、现进的一体化散热设计,使整机散热性能得到极大提高,提高核心部件使用寿命; 8、独有的机芯温控技术,保证X射线源的安全可靠运行,降低使用成本; 9、可定制化报告,可以自由设定元素测限,软件自动标示超标元素(Fail/Psaa); 10、多重仪器硬件保护系统,并可通过软件进行全程实时监控,让仪器工作更稳定、更安全; 11、优化了CI,Cr等元素的检测,大大提高了低含量CI和Cr元素的测试灵敏度和稳定性,为用户的 无卤分析提供了更精准的检验方法; 12、可拓展应用;镀层厚度分析,八大重金属分析,含金成分分析; 为了满足客户日益更为严苛的测试需求,特别是对微量痕量元素测试灵敏度和稳定性的更高标准, 飞母拖米全新开发了升级版EDX8000C---RoHS符合性XRF检测光谱仪。相较于基础版本的Si-pin硅针检测器,EDX8000C装备了最高的SDD硅漂移检测器。更高的样品X光能数据通量,更好的光谱分辨率,使得检测性能提高了2-3倍。 EDX8000C的优势 更快----由于单位时间内可以获得更高样品信号通量,使得测量时间大幅减少。100秒即可达到普通版本仪器200秒的测量效果; 更准---独特的多道分析器DPP可实现超过100,000cps的线性计数速率而同时保证最优的光谱分辨率,通常优于130Ev(普通Si-pin探测器为160eV),以更好地分离不同元素的光谱。同时,强大的基于Windows的FP(基本参数算法)软件降低了基体元素间吸收增强效应,并同时考虑到不同基体对光谱强度变化的干扰,把测试准确提高到了新的水平; 更稳---使用超大面积25mm2䥽窗SDD检测器(普通Si-pin检测器9-6mm2,)该款检测器可在相同样品激发条件下获得2-3倍于普通检测器的光谱强度(计数率CPS),从而得到更好的测试稳定性和长期重复性。与传统的Sipin版本台式仪器相比,EDX8000C光谱仪可以全功率运行,因此实现了更为稳定和可靠的测试表现;
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